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TECHNICAL ARTICLES導電粒子顯微鏡產(chǎn)品介紹
應(yīng)用領(lǐng)域:LCD液晶、導電粒子、彩色濾光片、手機屏幕、FPD模組、半導體晶圓片、FPC、PCB IC封裝、光盤CD、 圖像傳感器CCD、 CMOS、PDA等。
光源:采用3W 高亮度LED落射和透射照明裝置。
物鏡:高清晰平場熒光物鏡。
偏光:主機內(nèi)含有可調(diào)節(jié)偏光裝置。
微分干涉DIC:主機內(nèi)含有可調(diào)節(jié)微分干涉DIC裝置,使觀察更清晰,具有更強的立體感和調(diào)焦功能。
工作原理
導電粒子顯微鏡是利用電子束在樣品表面掃描激發(fā)出來代表樣品表面特征的信號成像的。主要用來作微形貌觀察、顯微成分分析。分辨率可達到1nm,放大倍數(shù)可達5×105倍。
導電粒子顯微鏡特點
(1)掃描電鏡所用樣品的制備方法簡便(固定、干燥和噴金),不需經(jīng)過超薄切片;
(2)能夠直接觀察樣品表面的結(jié)構(gòu),樣品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。
(3)掃描電鏡所觀察到圖像景深長,圖像富有立體感;掃描電鏡的景深較光學顯微鏡大幾百倍,比透射電鏡大幾十倍。
(4)圖象的放大范圍廣,分辨率也比較高。圖像的放大倍率在很大范圍內(nèi)連續(xù)可變(101-105×),分辨率介于光學顯微鏡與透射電鏡之間,可達3nm。
(5)樣品的輻射損傷及污染程度小等。
導電粒子顯微鏡局限性
(1)分辨率還不夠高(1-10nm);
(2)只能顯示樣品的表面形貌,無法顯示內(nèi)部詳細結(jié)構(gòu)。
產(chǎn)品名稱:導電粒子金相顯微鏡
產(chǎn)品型號:PZ- M-100DIC
產(chǎn)品簡介:M-100DIC型微分干涉數(shù)碼顯微鏡是一款性價比非常高的檢測用光學儀器。導電粒子金相顯微鏡采用優(yōu)良的無限遠光學成像系統(tǒng),內(nèi)置LED高亮度照明器,引入了微分干涉顯微觀察功能。雙目攝影觀察頭,體現(xiàn)了目視觀察的真實還原,以及數(shù)碼攝影與顯微成像的技術(shù)融合,觀察到的干涉圖像具有更強的立體感,適合于非透明材質(zhì)的表面形態(tài)觀察,如液晶屏導電粒子的顯微形態(tài)。是精密制造領(lǐng)域內(nèi)品質(zhì)檢測、結(jié)構(gòu)研究的理想儀器。
性能特點
★ 產(chǎn)品采用無限遠光學成像系統(tǒng),可選擇5X、10X、20X等長工作距離平場消色差無應(yīng)力物鏡,匹配相應(yīng)的微分 干涉(DIC插板)進行不同倍率的顯微觀察;
★ 照明系統(tǒng)采用高亮度、長工作時間的LED器件,具有結(jié)構(gòu)緊湊、使用安全等特點,特別適合在線檢測的環(huán)境要求;
★采用立柱式高度調(diào)整方式,觀察樣品的厚度范圍更大.
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