產(chǎn)品簡介
STM7測量顯微鏡具有多功能性，可以提供高性能的、三軸亞微米級精度的零件、電子元件的測量。無論樣品大或小，簡單或復(fù)雜，初學(xué)者或使用熟練者進(jìn)行測量，可以配置滿足您需要的測量顯微鏡。

產(chǎn)品型號：STM7。

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

訪問量：2320

產(chǎn)品咨詢 13439993923

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

光學(xué)精密測量儀

粗糙度儀共面性測試儀接觸角測定儀一鍵式快速測量儀精密測量投影儀 CNC全自動(dòng)影像儀 3D三坐標(biāo)測量機(jī) 快速尺寸測量儀測量金相顯微鏡刀具投影測量儀金相光學(xué)顯微鏡磨刀機(jī)顯微鏡測量分析顯微鏡視頻測量顯微鏡金屬材料顯微鏡高倍金相顯微鏡光學(xué)輪廓顯微鏡水滴角界面測量儀界面張力測量儀超低界面張力儀平面度測試儀臥式影像測量儀精密影像測量儀

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STM7測量顯微鏡用途

具有多用途性，能夠以亞微米精度實(shí)現(xiàn)對零部件和電氣組件的高性能三軸測量。無論待測樣品是大的還是小的，測量內(nèi)容是簡單的還是復(fù)雜的，測量人員是新手還是專家，能滿足您需求、為您量身打造的測量顯微鏡產(chǎn)品。

STM7測量顯微鏡觀察性能

STM7系列采用了當(dāng)前光學(xué)顯微鏡中所使用的UIS2校正光學(xué)系統(tǒng)。因此，觀察到的圖像具有高分辨率和高對比度，此外，像差也被*消除，以確保實(shí)現(xiàn)對微小細(xì)節(jié)的高精度測量。

明場圖像

暗場圖像

微分干涉圖像

偏光圖像

花崗巖精雕細(xì)琢而成的載物臺(tái)基座增強(qiáng)了測量的可靠性

FEM分析

STM7-LF FEM 分析

為了進(jìn)一步保證測量精度，STM7系列采用了一個(gè)配備花崗巖基座的高度耐用和防振動(dòng)的鏡架。由于花崗巖的高穩(wěn)定性，使測量可到達(dá)亞微米水平，同時(shí)確保地降低誤差。

作為高度測量的先鋒，繼續(xù)提供簡單易操作的高精度3軸測量

跟蹤對焦光路

主動(dòng)反射，共聚焦自動(dòng)聚焦系統(tǒng)光路

隨著現(xiàn)代制造技術(shù)日益小型化和精密化，高精度測量也日趨重要——不僅是XY軸平面的測量，而且Z軸方向的高精度測量。以此響應(yīng)了這種與日俱增的需求。

嚴(yán)格的可追溯系統(tǒng)確保品質(zhì)可靠

可追溯系統(tǒng)圖

測量顯微鏡溯源系統(tǒng)

奧林巴斯通過一個(gè)嚴(yán)格的可追溯系統(tǒng)控制測量顯微鏡的準(zhǔn)確度。并且在安裝系統(tǒng)時(shí)奧林巴斯也提供了可追溯的校準(zhǔn)服務(wù)。

STM7在設(shè)計(jì)上非常重視易用性
提供適合您樣品尺寸的載物臺(tái)
常見問題

短測量行程無法滿足較大樣品的測量需求。
目前為止，大型載物臺(tái)在X軸方向提供了足夠的測量行程，但是Y軸的行程仍然較小。在測量過程中需要通過旋轉(zhuǎn)樣品來補(bǔ)償比X軸覆蓋范圍要短的Y軸行程，這樣的做法費(fèi)事費(fèi)時(shí)，效率不高。

由于可測量的范圍窄，無法將數(shù)量較多的樣品排列在載物臺(tái)上，以實(shí)現(xiàn)一次性同時(shí)測量。

STM7解決方案

共有四種*的正方形測量行程的載物臺(tái)可供選用(50 mm x 50 mm, 100 mm x 100?mm, 200 mm x 200 mm, 和300 mm x 300 mm)。不管是大的樣品還是小的樣品，總有一款載物臺(tái)會(huì)適合您要測量的樣品。
采用離合器系統(tǒng)可以在粗調(diào)和微調(diào)之間實(shí)現(xiàn)快速切換。具備了這種切換功能之后，載物臺(tái)也可以沿著X軸和Y軸方向迅速移動(dòng)，并且可以在XY平面上自由穿梭。

300 mm長的方形載物臺(tái)在X軸和Y軸方向上可以提供相同的測量行程，這意味著可以不旋轉(zhuǎn)樣品就實(shí)現(xiàn)大型樣品的全部測量，比如300 mm的晶圓和印刷電路板。

上一個(gè)：SZX16體式金屬顯微鏡