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產(chǎn)品中心實(shí)驗(yàn)檢測(cè)儀器測(cè)量分析顯微鏡STM7。STM7測(cè)量顯微鏡
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
STM7測(cè)量顯微鏡具有多功能性，可以提供高性能的、三軸亞微米級(jí)精度的零件、電子元件的測(cè)量。無(wú)論樣品大或小，簡(jiǎn)單或復(fù)雜，初學(xué)者或使用熟練者進(jìn)行測(cè)量，可以配置滿(mǎn)足您需要的測(cè)量顯微鏡。
產(chǎn)品分類(lèi)
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STM7測(cè)量顯微鏡用途
具有多用途性，能夠以亞微米精度實(shí)現(xiàn)對(duì)零部件和電氣組件的高性能三軸測(cè)量。無(wú)論待測(cè)樣品是大的還是小的，測(cè)量?jī)?nèi)容是簡(jiǎn)單的還是復(fù)雜的，測(cè)量人員是新手還是專(zhuān)家，能滿(mǎn)足您需求、為您量身打造的測(cè)量顯微鏡產(chǎn)品。
STM7測(cè)量顯微鏡觀察性能
STM7系列采用了當(dāng)前光學(xué)顯微鏡中所使用的UIS2校正光學(xué)系統(tǒng)。因此，觀察到的圖像具有高分辨率和高對(duì)比度，此外，像差也被*消除，以確保實(shí)現(xiàn)對(duì)微小細(xì)節(jié)的高精度測(cè)量。
明場(chǎng)圖像
暗場(chǎng)圖像
微分干涉圖像
偏光圖像
花崗巖精雕細(xì)琢而成的載物臺(tái)基座增強(qiáng)了測(cè)量的可靠性
STM7-LF FEM 分析
為了進(jìn)一步保證測(cè)量精度，STM7系列采用了一個(gè)配備花崗巖基座的高度耐用和防振動(dòng)的鏡架。由于花崗巖的高穩(wěn)定性，使測(cè)量可到達(dá)亞微米水平，同時(shí)確保地降低誤差。
作為高度測(cè)量的先鋒，繼續(xù)提供簡(jiǎn)單易操作的高精度3軸測(cè)量
主動(dòng)反射，共聚焦自動(dòng)聚焦系統(tǒng)光路
隨著現(xiàn)代制造技術(shù)日益小型化和精密化，高精度測(cè)量也日趨重要——不僅是XY軸平面的測(cè)量，而且Z軸方向的高精度測(cè)量。以此響應(yīng)了這種與日俱增的需求。
嚴(yán)格的可追溯系統(tǒng)確保品質(zhì)可靠
測(cè)量顯微鏡溯源系統(tǒng)
奧林巴斯通過(guò)一個(gè)嚴(yán)格的可追溯系統(tǒng)控制測(cè)量顯微鏡的準(zhǔn)確度。 并且在安裝系統(tǒng)時(shí)奧林巴斯也提供了可追溯的校準(zhǔn)服務(wù)。
STM7在設(shè)計(jì)上非常重視易用性
提供適合您樣品尺寸的載物臺(tái)
常見(jiàn)問(wèn)題
短測(cè)量行程無(wú)法滿(mǎn)足較大樣品的測(cè)量需求。
目前為止，大型載物臺(tái)在X軸方向提供了足夠的測(cè)量行程，但是Y軸的行程仍然較小。在測(cè)量過(guò)程中需要通過(guò)旋轉(zhuǎn)樣品來(lái)補(bǔ)償比X軸覆蓋范圍要短的Y軸行程，這樣的做法費(fèi)事費(fèi)時(shí)，效率不高。
由于可測(cè)量的范圍窄，無(wú)法將數(shù)量較多的樣品排列在載物臺(tái)上，以實(shí)現(xiàn)一次性同時(shí)測(cè)量。
STM7解決方案
共有四種*的正方形測(cè)量行程的載物臺(tái)可供選用(50 mm x 50 mm, 100 mm x 100?mm, 200 mm x 200 mm, 和300 mm x 300 mm)。 不管是大的樣品還是小的樣品，總有一款載物臺(tái)會(huì)適合您要測(cè)量的樣品。
采用離合器系統(tǒng)可以在粗調(diào)和微調(diào)之間實(shí)現(xiàn)快速切換。具備了這種切換功能之后，載物臺(tái)也可以沿著X軸和Y軸方向迅速移動(dòng)，并且可以在XY平面上自由穿梭。
300 mm長(zhǎng)的方形載物臺(tái)在X軸和Y軸方向上可以提供相同的測(cè)量行程，這意味著可以不旋轉(zhuǎn)樣品就實(shí)現(xiàn)大型樣品的全部測(cè)量，比如300 mm的晶圓和印刷電路板。
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