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PRODUCTS CNTER倒置金相顯微鏡PZ-17AT提供的圖像質量和穩(wěn)固可靠的機械結構,操作簡便,附件齊全,廣泛應用于教學科研金相分析以及工廠實驗室材料檢測。
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高眼點、超寬視野平場目鏡,PL10x/22mm,提供更加寬闊平坦的觀察空間并可加裝用于測量的各類測微尺,無限遠平場消色差超長工作距專業(yè)金相物鏡,無蓋玻片設計
觀察筒
鉸鏈式三目,視度可調節(jié),45°傾斜,可進行攝影攝像,對觀察圖像進行采集和保存,配置電腦和專業(yè)軟件實現(xiàn)圖像分析。
調焦支架
低手位粗微調同軸調焦機構,帶有粗調松緊調節(jié)裝置,粗調每轉行程38mm,微調精度0.002mm。
照明系統(tǒng)
帶可變光闌和中心可調視場光闌的反射式柯拉照明器,自適應90V-240V寬電壓,12V50W鹵素燈,有效保護和延長鹵素燈泡的使用壽命。
載物臺
可加裝同軸低手位調節(jié)移動尺及載物臺延伸板,拓展應用空間,滿足不同需求客戶的使用。
倒置金相顯微鏡PZ-17AT技術參數(shù)
光學系統(tǒng) | 無限遠色差校正光學系統(tǒng) |
觀察筒 | 鉸鏈式三目頭,45°傾斜,瞳距調節(jié)范圍:54-75mm,單邊視度調節(jié)±5屈光度分光比:雙目100%,雙目:三目=80%:20% |
目鏡 | 高眼點大視野平場目鏡PL10X22mm |
高眼點大視野平場目鏡PL15X/16mm | |
物鏡 | 無限遠長工作距平場消色差金相物鏡:LMPL5X /0.15/WD10.8 LMPL10X/0.3/WD10 LMPL20X/0.45 /WD4 |
無限遠長工作距平場半復消金相物鏡:LMPLFL50X/0.55 /WD7.8 LMPLFL100X/0.80 /WD2.1 | |
轉換器 | 五孔轉換器 |
調焦機構 | 粗微調同軸,粗調每轉行程:38mm,微調每轉行程:0.2 mm,調焦精度:0.002mm,帶松緊調節(jié)裝置 |
載物臺 | 固定平臺:尺寸160X250mm |
工作臺板 | 金屬載物臺板(中心孔Φ12)/金屬載物臺板(中心孔Φ25)/載物臺延伸板 |
移動尺 | 低位同軸機械式移動尺,行程120x78mm |
反射照明系統(tǒng) | 反射式柯拉照明器,帶可變孔徑光欄和中心可調視場光欄,自適應90V~240V寬電壓,12V50W鹵素燈,中心可調,,亮度連續(xù)可調 |
偏光裝置 | 起偏鏡插片 |
檢偏鏡插片,可360度旋轉 | |
濾色鏡 | Φ32mm黃/綠/藍/中性 |
攝影裝置 | 攝影接筒(帶PK卡口),3.2X攝影目鏡 |
攝像裝置 | 0.5X/1.0X/ C型攝像接筒 |
采用寬光束成像系統(tǒng)設計,支持26.5mm 超寬視野觀察,帶給您大視野體驗。兩檔式正像鉸鏈三目觀察筒,保證樣品的移動方向與您通過目鏡觀察到的方向一致,使操作更加得心應手。
三檔式鉸鏈三目觀察筒,在成像光線100% 用于雙目觀察或三目攝影的基礎上,增加一檔20% 用于雙目觀察,80% 用于顯微攝影,方便用戶同時對鏡下圖像與視頻圖像進行對比觀察
偏振系統(tǒng)
偏振系統(tǒng)包括起偏器和檢偏器,可做偏光檢測,在半導體和PCB 檢測中,可消除雜光,細節(jié)清楚。檢偏器分為固定式檢偏器和360 度旋轉式檢偏器。360°旋轉式檢偏器可在不移動標本的情況下,方便的觀察標本在不同偏振角度光線下呈現(xiàn)的狀態(tài)??稍谄裣到y(tǒng)的基礎上加載微分干涉器,建立微分干涉襯比系統(tǒng)。
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